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        元素分析 Elemental AnalysisXRD
品名:X光繞射光譜儀
型號:XRD-6100
 

產品說明:

高精準垂直式量角器 ,多元樣品置放容易,標準化之繞射峰圖譜自動搜尋比對功能,定性鑑定工作更順暢,當繞射角度偏移時,使用者可非常方便快速地使用自動光學角度調整成正確理論角度。設備精巧設計;節省安裝空間, 一應俱全多重組合的特殊附屬裝置滿足各種應用需求,自動監測功能,確保安全機制,人性化操控介面,使用真輕鬆容易,高動態應用能力,適合各產業需求。



產品規格:
 
 
X-ray tube
Type 
Sealed type
Anode 
Cu
Focus size
1×10mm(2.0kW) or 2×12mm(2.7kW)
Rating
2.0kW OR 2.7kW
X-ray generator
Rating 
3kW
Control 
2nd side detection-1st  side control, thyristor method
Stability 
±0.01% in mA and kV against ±10% deviation of input voltage
Tube voltage setting
20~60kV(1kV step)
Tube current setting
2~80mA(1mA step)
Protection
Overload with 1.5~3kW in 0.5kW
overvoltage, overcurrent,
poor flow rate of the cooling water
Emergency stop
Power down of X-ray power and goniometer stop
Goniometer
Type
vertical
Goniometer radius
185mm
Minimum step angle
0.002゜(2θ),0.001°(θ)
Angle reproducibility
±0.001゜(2θ)
Scan range
-6゜~+163゜(2θ)
-180゜~+ 180゜(θ)
Scanning mode
θ-2θ,θonly,2θonly
θ-oscillation when step scanning
Motor drive
stepping motor drive(both θand 2θ)
Rapid feeding
1000゜/min(2θ),500゜/min(θ)
Scanning speed
0.1°~50°/min(2θ)
0.05°~25°/min(θ)
Slit
divergence slit
scattering slit
receiving slit
0.5゜,1゜,2゜and 0.05mm
0.5゜,1゜,2゜
0.15mm,0.3mm
Glancing angle
6゜
Filter
Ni(for Cu tube)
Control / measurement unit
Detector 
Scintillator 
Scintillation counter
NaI
Photo multiplier
1 inch head on type
Scaler
Preset time
Digit number
0.1~1000sec
7digits
HV for detector
500~1200V
PHA
Set of base line and window level
Case
Dimensions 
900(W)×700(D)×1600(H)mm
X-ray shield observation window
others
lead-contained transparent acryl plate
7mm thick
Iron plate
Coefficient of dose equivalence around the case
Below 2μSv/h(at full X-ray generations)
Door interlock
After recognizing the door close, control
X-ray generation and the goniometer
Door lock
Electromagnetic 
Data processing system
Control software
Controlled terms
X-ray generator
X-ray ON/OFF
Tube voltage and current
goniometer θ,2θ axis
detector voltage, PHA set, scaler
Data processing software file management
 
 

Qualitative analysis
Quantitative analysis
Graphic display
conversion from XRD-6100 to ASCII data
conversion from ASCII data to XRD-6100
conversion from XD-D1 data* to XRD-6100
basic data processing smoothing
subtraction of back ground
separation of Kα1 and Kα2
peak search
calculation of FWHM and integrated intensity
system error correction
correction by internal/external standard
method
arithmetic operation among data
automatic search and match using JCPDS
data base (option)
generation of working curve
quantitative calculation for unknown sample
vertical display
horizontal display
superpose (3D)
Log scale

 



應用分析:

1.鋼鐵合金/金屬: 結晶構造定性分析,殘留應力分析,奧斯汀鐵 / 殘留分析, 鍍層元素成份比例厚度分析,表面處理後晶型變化分析,鑄造過程中添加 劑效能研究。

2.非鐵合金:
 (1)銅及鋅:結晶構造定性分析,薄箔樣品順向度分析,特定區域結晶構造定性分析。
 (2)鋁: 鋁與鋁合金結晶構造定性分析, 輾軋過的鋁合金結晶構造定性分析。
 (3)機械/汽車/建材:不鏽鋼工具模具/機械零件表面/奧斯汀鐵塗層/機械拉桿, /轉換觸媒, 結晶構造定性分析及殘留應力分析。

3.化學及觸媒業:有機/無機/雜質定性分析, 觸媒樣品結晶化度及結晶粒大小分析。

4.陶瓷/水泥/玻璃業:原料/最終產品於製程加熱過程,對材料結晶系、結晶粒大小、 結晶格子變化研究, 水泥原料最終產品結晶構造定性及定量分 析,玻璃/多層膜定性及順向度分析。

5.醫藥業: 原料/雜質/最終產品結晶多態性構造定性分析, 結晶化度分析, 結晶粒大小分析,專利結晶構造項目鑑定,牙醫齒模材料研究。

6.能源產業:煤礦中碳含量評鑑,石油、天然氣中觸媒添加量晶體結構機轉研究, 礦石中石綿定性及定量分析。

7.電子電機業: 半導體、電子相關元件/板材/多層材產品,相關材料或殘留、腐蝕、黏 附結晶構造定性分析,殘留應力分析,順向度分析。

8.環境:建築物中石綿殘留定性及定量分析,工業廢棄物;爐渣、灰份定性分析。



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